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Planum-3000 平面光學元件光譜分析儀

Planum-3000 平面光學元件光譜分析儀

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產品介紹

Planum-3000平面光學元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學元件的反射、透射光譜,可進行多角度絕對反射率、相對反射率、透射率測量,偏振光測量,膜性測量,顏色測量等。

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儀器特點:

自定義多角度透反射測量

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測量對象:
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? ? ? ?棱鏡? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??平行平板、平晶
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? ? ?濾光片? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?紅外截止片
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技術參數:

型號
Planum-3000
探測器
Hamamatsu背照式CCD陣列
檢測范圍
380-1100nm
波長分辨率
1nm
信噪比(全信號)
1000:1
相對檢測誤差
<0.2%(410-900nm)
操作方式
自動
角度分辨率
<0.0002°
重復定位精度
<0.005°
旋轉最大速度
25°/s
透射測量角度
0-80°(小樣品0-50°)
反射測量角度
5-80°
單次測量時間量
<1s
S/P光測量
支持
樣品尺寸
>Φ3mm
操作系統/接口
Windows7~Windows10/ USB2.0
電源/功率
220V-50HZ /100W
其它
可自定義打印報表格式,開放式光學材料數據庫

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